Blaulichtgefährdung vereinfacht bewerten

Die schnell wachsende Bedeutung der modernen Festkörperbeleuchtungstechnologie in unserem täglichen Umfeld wirft wichtige Sicherheitsaspekte zur photobiologischen Sicherheit und zur Blaulichtgefährdung auf. Die aktuelle internationale Norm IEC 62471 enthält entsprechende Leitlinien zur Bewertung von Lampen und Lampensystemen. Da sie extrem hohe Anforderungen an Messgeräte und -verfahren stellt, sind mit dem ergänzten Technischen Report IEC TR 62778 praxisnahe Bewertungsmethoden eingeführt worden.

Auf dessen Basis hat Instrument Systems ein schnelles und praxisnahes Messsystem zur Beurteilung von LEDs oberhalb von 360 nm entwickelt. Die neue Teleskopoptik TOP 150-BLH basiert auf der bewährten Teleskopoptik TOP 200, hat aber nur eine einzige Blende mit 7 mm Durchmesser. Die Blendenöffnung ist in Höhe der Objektivlinse positioniert und entspricht der Referenzebene. Über eine interne Blende wird für Testobjekte in 200 mm Entfernung ein Mess-Spot über 2,2 mm festgelegt. Dieser ist komfortabel über eine interne Sucherkamera positionierbar.

In Verbindung mit einem kalibrierten Spektralradiometer CAS 140 D und der dazugehörigen Analyse-Software SpecWin Pro kann eine direkte spektrale Strahldichtemessung durchgeführt werden. Zur effektiven Bewertung der Blaulichtgefährdung gibt die Norm IEC 62471 eine Gewichtungsfunktion vor, mit der die spektralen Messdaten multipliziert werden. Diese Funktion deckt den Wellenlängenbereich zwischen 300 und 700 nm ab und hat ein Maximum bei 435 bis 440 nm. In diesem Bereich verursacht blaues Licht photochemische Schäden an der Netzhaut. Abhängig von der mit der Blaulichtgefährdungsfunktion bewerteten Strahldichte L_B und der daraus berechneten maximalen Expositionszeit t_max ordnet die Analyse-Software die Lichtquellen in die von der Norm vorgegebenen vier Risikogruppen ein. Durch die Einfachheit des Messaufbaus sind schnelle und langzeit-stabile Messungen auch in Produktionsanwendungen möglich.

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Messehinweis:
Light+Building 2020, Stand 8.0 F60, 8.-13. März 2020, Frankfurt / Deutschland