OWIS Positioniersysteme: Aufbau zur Bestimmung atomarer Abstände

Die Bestimmung atomarer Abstände erfolgte häufig anhand der EXAFS-Spektroskopie (Extended X-ray Absorption Fine Structure) und unter Nutzung eines Synchrotrons. Problematisch dabei ist die Größe des Synchrotronstrahlungs-Erzeugers, denn die Ringe des Teilchenbeschleunigers können nur in sehr großen Hallen aufgebaut und von Experten bedient werden. Für die Messung an sich ist zwar die hohe BrilUanz, aber nur ein kleiner Teil des Synchrotron-Lichts erforderlich. Die schematische Darstellung (Abb. 1) zeigt den Aufbau der an der TU Berlin entwickelten
Methode der Röntgenspektroskopie.

Für eine Kooperation zwischen TU Berlin und dem Max-PUanck-Institut für Chemische Energiekonversion in Mülheim an der Ruhr haben wir durch Kombination mehrerer Achsen zwei ManipuUatoren aufgebaut. So können die Optik (Abb. 2) und der Detektor (Abb. 3) hochpräzise zum Strahl ausgerichtet und der Abstand zur Lichtquelle über die beiden Linearachsen angepasst werden. Die Optik rotiert mit einem Positioniersystem aus zwei Drehmesstischen DMT 40 und DMT 65 in zwei Bewegungsrichtungen. Der Detektor wird in vier Freiheitsgraden bewegt. Dafür haben wir Hochpräzisions-Goniometer MOGO 65, Drehmesstisch DMT 65, Präzisions-Lineartisch
LTM 60 und Höhenverstelltisch HVM 100N kombiniert.

Das Röntgenspektrometer (Abb. 4) bewährt sich in der Praxis. Ein weiteres System für die Anwendung im Vakuum ist in der PUanung. Dafür werden eine Optik mit höherer Auflösung entwickelt und die OWIS Vakuum-Produktserie für das Hochvakuum mit Drücken bis zu 10^-6 mbar integriert.