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Advantest Introduces New T5835 Memory Tester for Advanced DRAMs and NAND Flash Devices with High-Speed Interfaces
Leading semiconductor test equipment supplier Advantest Corporation (TSE: 6857) has announced the newest cost-efficient, high-volume memory tester in its industry-leading T5800 product family. With its 5.4-Gbps operating speed and massive parallelism, the new T5835 system is a wide-coverage test solution for current and next-generation DRAM core and high-speed NAND devices. Interface speeds on both volatile and nonvolatile memory ICs are continuing to accelerate. Market trends indicate that mid-speed final testing of DRAM cores is increasing to achieve an optimal balance of reliability, test coverage and cost efficiency. Interface speeds for testing NAND memories can be more than 2 Gbps for today’s high-speed devices and are projected to exceed 4 Gbps…
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Advantest Announces New Versatile, High-Throughput Test Solution for NAND/Nonvolatile Flash Memory ICs
Leading semiconductor test equipment supplier Advantest Corporation (TSE: 6857) has introduced a new high-throughput memory tester for NAND flash devices that can perform functional testing of chips while delivering highly accurate timing, repeatability and failure detection. With data-transfer speeds that are more than five times faster than its predecessor, the new T5221 system is designed to improve production efficiencies while reducing test costs for wafer sorting, built-in self-testing (BIST) and wafer-level burn-in (WLBI). Worldwide sales of NAND wafer test equipment for multi-stacked type probers are approximately US$100 million per year, accounting for an estimated seven percent of the total memory market. As the market grows, customers are shifting away from…
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Advantest Showcases Latest Semiconductor Test Solutions at SEMICON Europa 2021
Leading semiconductor test equipment supplier Advantest Corporation (TSE: 6857) will showcase their diverse portfolio of test solutions at SEMICON Europa, taking place on November 16-19 in Munich, Germany. This year’s SEMICON Europa trade show offers the opportunity for attendees to reconnect in person. At stand #B1.213 in Hall B1, visitors can find out more about Advantest’s newest IC test cell and cloud solutions that provide overall value and lower costs, while optimizing yields in and around the testing process. Demos taking place at Advantest’s stand will include: The new V93000 EXA Scale™ SoC Test System capable of testing digital ICs up to the exascale performance class, offering: Highest density instrumentation…
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Advantest erweitert die V93000 Plattform mit neuer Instrumentierung für softwarebasierte Funktions- und HSIO SCAN-Tests
Advantest Corporation (TSE: 6857), führender Anbieter von Halbleitertestsystemen, gibt die Einführung seiner neuen Link Scale™ Produktreihe von digitalen Karten für die V93000 Plattform bekannt. Hiermit werden softwarebasierte Funktionstests und USB / PCI Express (PCIe) SCAN-Tests von Halbleitern der nächsten Generation ermöglicht. Die Plattform wird um systemähnliche Test™-Funktionen erweitert und adressiert damit die Herausforderungen an den Test, Schnittstellen im vollständigen Protokollmodus zu betreiben. Viele der heutigen komplexen System-on-Chip (SoC)-Bauteile, Mikroprozessoren, Grafikprozessoren und KI-Beschleuniger verfügen über digitale Hochgeschwindigkeitsschnittstellen wie USB oder PCIe. Die neuen Link Scale Karten nutzen diese Schnittstellen für eine sehr schnelle Übertragung von Funktions- und Scantestinhalten und erhöhen damit gleichzeitig die Testabdeckung und den Durchsatz. Die kompakte Bauform ermöglicht…
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Advantest Launches New Channel Cards, Adding Software-Based Functional Test and HSIO SCAN Test to the V93000 Platform
Leading semiconductor test equipment supplier Advantest Corporation (TSE: 6857) has launched its new Link Scale™ family of digital channel cards for the V93000 platform, enabling software-based functional testing and USB/PCI Express (PCIe) SCAN testing of advanced semiconductors. The new cards address testing challenges that require these interfaces to run in full protocol mode, adding system-like test™ capabilities to the V93000. Many of today’s complex system-on-chip (SoC) devices, microprocessors, graphics processors and AI accelerators incorporate high-speed digital interfaces such as USB or PCIe. The new Link Scale cards use these interfaces for very fast transfer of functional and scan test content, increasing test coverage and throughput simultaneously. Using the same form…
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Advantest erwirbt R&D Altanova
Advantest Corporation (TSE: 6857), führender Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, gab den Abschluss einer Vereinbarung zur Übernahme der US-amerikanischen R&D Altanova, Inc. ("R&D Altanova") bekannt. R&D Altanova ist ein führender Anbieter von Test Interface Boards, Substraten und Verbindungstechnologien für High-End-Anwendungen. Das Unternehmen bietet Simulation, Design, Layout, Herstellung und Montage von Test Interface Boards an, die in Testgeräten bei der Prüfung von neuesten ICs eingesetzt werden. Da die Halbleiter immer kleiner werden, aber ihre Komplexität stetig zunimmt, werden neuartige Testmöglichkeiten für die Herstellung von High-End-Anwendungen wie 5G, IoT und Cloud Computing immer wichtiger. R&D Altanova hat langjährige Erfahrung in der Entwicklung erfolgreicher innovativer Lösungen für Hochleistungs- und High-Density-Leiterplatten, die den wachsenden Anforderungen zukunftsweisender…
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Advantest Acquires R&D Altanova
Leading semiconductor test equipment supplier Advantest Corporation (TSE: 6857) (“the Company”) has announced that it has entered into an agreement to acquire US based R&D Altanova, Inc. (“R&D Altanova”). R&D Altanova is a leading supplier of consumable test interface boards, substrates and interconnects for high-end applications, offering simulation, design, layout, fabrication and assembly of test interface boards which are used by testing equipment in the testing of advanced integrated circuits. As process nodes continue to shrink, and device complexity grows, advanced capabilities of testing devices are becoming increasingly important to manufacturers of semiconductors for high-end applications, such as 5G, IoT and cloud computing. R&D Altanova has a long history of…
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Advantest Issues Call for Papers for VOICE 2022 Developer Conference in Scottsdale, Arizona
Leading semiconductor test equipment supplier Advantest Corporation (TSE: 6857) has issued an international call for papers for its VOICE 2022 Developer Conference focusing on leading-edge technologies and advanced test trends. The conference will be held in Scottsdale, Arizona, on May 17-18, 2022, with an additional day of interactive technical workshops. VOICE is the leading conference for the growing global community of users and strategic partners involved with Advantest’s V93000 and T2000 SoC test platforms, memory testers, handlers, test cell solutions, product engineering and technology development. The annual conference brings together semiconductor test professionals representing the world’s leading integrated device manufacturers (IDMs), foundries, fabless semiconductor companies and outsourced semiconductor assembly and…
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Advantest kündigt TAS7400TS Option mit erhöhter Frequenzauflösung an
Advantest Corporation (TSE: 6857), führender Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, hat eine Hochfrequenzauflösungsoption für sein optisches Terahertz-Probenentnahme-Analysesystem TAS7400TS angekündigt. Die neue Option zeichnet sich durch ein hervorragendes Preis-Leistungsverhältnis und einfache Bedienung aus. Sie bietet ein innovatives Messverfahren zur Bestimmung der Hochfrequenzeigenschaften von Funkwellenabsorbern sowie speziellen Materialien. Diese hochwertigen Komponenten sind für die Kommunikationstechnologie der nächsten Generation 6G und Millimeterwellen-Radartechnologien für ADAS Anwendungen (Advanced Driver Assistance Systems) unerlässlich. Vektorielle Netzwerkanalysatoren (VNAs) werden häufig zur Bestimmung der Übertragungseigenschaften (Transmissions-, Reflexionsfaktor) und der komplexen Dielektrizitätskonstante verschiedener Materialien im Millimeterwellen- und Hochfrequenzbereich eingesetzt. In den letzten Jahren ist es jedoch wichtig geworden, diese Eigenschaften über ein breiteres Frequenzspektrum zu bewerten. Aufgrund des nötigen Zeit- und Arbeitsaufwands…
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Advantest und PDF Solutions haben eine neue Lösung für dynamische parametrische Tests vorgestellt
Advantest Corporation (TSE: 6857), führender Anbieter von Halbleiter-Testsystemen und PDF Solutions Inc. (Nasdaq: PDFS), ein führender Anbieter von umfassenden Datenlösungen für das Halbleiter-Ökosystem, haben ihre erste gemeinsam entwickelte Lösung seit der Gründung ihrer Partnerschaft im Juli 2020 präsentiert. Das neue Advantest Cloud Solutions (ACS) „Dynamic Parametric Test (DPT) powered by PDF Exensio®“ Produkt wird bereits von einem großen Halbleiterhersteller in der Fertigung eingesetzt. ACS ist eine hochsichere, skalierbare Datenplattform, die ein offenes Lösungsökosystem ermöglicht. Es unterstützt unsere Kunden bei der Bewältigung ihrer derzeit größten Herausforderungen im Umgang mit einer intelligenten Fertigungsumgebung. Die neue Lösung integriert das Exensio®-Datenanalyse-Portfolio von PDF Solutions mit dem parametrischen Testsystem V93000 von Advantest. Die ACS DPT-Lösung…
