-
Spektrale Charakterisierung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays
Instrument Systems zeigt auf der SPIE Photonics West 2023 schnelle und hochauflösende Spektralradiometer in Kombination mit innovativen Kamerasystemen zur Vermessung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays. An Stand 4106 der SPIE Photonics West 2023 (USA) zeigt Instrument Systems seine Spektralradiometer der Premiumklasse sowie kombinierte Messlösungen mit absolut kalibrierten Kameras. Die spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera LumiTop steht in unterschiedlichen Modellvarianten zur Verfügung und ist perfekt geeignet für die Prüfung von μLED-Arrays. Die LumiTop AR/VR mit Periskop-Objektiv ermöglicht parallele 2-Augenmessungen für AR/VR-Headsets auch unter räumlich beengten Bedingungen. Dank neuartigem One-Shot-Verfahren misst die Infrarotkamera VTC simultan die räumliche Polarisation einzelner Emitter eines VCSEL-Arrays und liefert notwendige Informationen, um die Polarisationsabhängigkeit des Messaufbaus zu reduzieren. Alle…
-
Spectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays
At SPIE Photonics West 2023, Instrument Systems will be displaying fast, high-resolution spectroradiometers in combination with innovative camera systems for the measurement of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays. Munich, December 2022 – At booth 4106 at SPIE Photonics West 2023 (USA) Instrument Systems will be showcasing its premium-class spectroradiometers and combined measurement solutions with absolutely calibrated cameras. Different model variants of the spectrally enhanced LumiTop 2D imaging colorimeter are available and are ideally suited to μLED array testing. The LumiTop AR/VR with periscope lens permits parallel 2-eye measurements for AR/VR headsets, even in confined spaces. Thanks to the innovative one-shot process, the VTC infrared camera simultaneously measures the spatial polarization…
-
Instrument Systems VCSEL analysis camera wins Photonics Award
Instrument Systems presented its new VTC 4000 infrared camera at Photonics West at the beginning of 2022. This camera has now received the “Laser Focus World Innovators Award 2022” in silver from a jury of experts from the photonics industry. The VTC 4000 VCSEL analysis camera was specially developed for the ultrafast, precise 2D near-field analysis of narrowband emitters, e.g. VCSELs or lasers. It can be seen live at the Instrument Systems Booth B5.418 at electronica 2022 in Munich in November. “VCSELs are components with an intrinsic single longitudinal mode and normally exhibit complex polarization properties,” says Stephanie Grabher, Head of Key Accounting at Instrument Systems. “The light they emit…
-
VCSEL-Analysekamera von Instrument Systems gewinnt Photonik-Award
Instrument Systems präsentierte seine neue Infrarotkamera VTC 4000 Anfang 2022 auf der Photonics West. Eine Jury aus Experten der Photonik-Industrie zeichnete diese Kamera nun mit dem „Laser Focus World Innovators Award 2022“ in Silber aus. Die VCSEL-Analysekamera VTC 4000 ist speziell für die ultraschnelle und präzise 2D-Nahfeldanalyse von schmalbandigen Emittern, wie z.B. VCSEL oder Lasern, entwickelt worden. Live zu sehen ist sie im November auf der electronica 2022 in München am Stand von Instrument Systems B5.418. „VCSEL sind Komponenten mit einem intrinsischen Single-Longitudinal-Mode und weisen normalerweise komplexe Polarisationseigenschaften auf“, sagt Stephanie Grabher, Head of Key Account bei Instrument Systems. „Das von ihnen emittierte Licht ist typischerweise entlang einer von zwei…
-
LumiTop guarantees the quality of μLED arrays in AFS applications
Due to the intelligent combination of instantaneous spectroradiometric reference measurement and camera-based color- and brightness measurement, the LumiTop system from Instrument Systems is predestined for use in the quality inspection of µLED modules. At Light+Building in Frankfurt Hall 8.0 H38, Instrument Systems will be showcasing its spectrally exhanced LumiTop 4000 2D imaging colorimeter for testing μLED arrays in AFS applications. The 12 MP camera simultaneously measures the individual LEDs of the array, and due to its high measurement speed, it avoids the temperature-dependence of high-performance LEDs. In combination with a high-end CAS 140D spectroradiometer, the system – calibrated to luminance (in cd/m2) – delivers highly accurate measured values. In particular,…
-
LumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen
Die intelligente Kombination aus instantaner spektralradiometrischer Referenzmessung und kamerabasierter Farb- und Helligkeitsmessung prädestiniert das LumiTop-System von Instrument Systems für die Qualitätsprüfung von µLED-Modulen. München, September 2022 – Instrument Systems zeigt auf der Light+Building in Frankfurt Halle 8.0 H38 seine spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera LumiTop 4000 zur Prüfung von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen. Die 12 MP Kamera misst die Einzel-LEDs des Arrays simultan und umgeht durch ihre hohe Messgeschwindigkeit die Temperaturabhängigkeit von Hochleistungs-LEDs. In Kombination mit einem High-end Spektralradiometer CAS 140D liefert das auf Leuchtdichte (in cd/m2) kalibrierte System hochgenaue Messwerte. Dadurch ist es insbesondere für die Qualitätskontrolle von Gleichförmigkeit, Helligkeit und Farbe bei μLED-Arrays hervorragend geeignet. Neue adaptive Frontbeleuchtungssysteme (AFS) verwenden μLED-Arrays…
-
Instrument Systems extends its core business segments Display Testing and Optical Measurement
Instrument Systems GmbH (Instrument Systems), a German manufacturer of high-precision spectroradiometers, cameras and complex display and light measurement systems, has extended its core business segments Display Testing and Optical Measurement through the acquisition of a Korean manufacturer of display measurement systems. A share purchase agreement has been signed to acquire a 100 % shareholding in Kimsoptec Co., Ltd. (Kimsoptec), a display measurement equipment manufacturer and exclusive distributor of the Instrument Systems product portfolio in Korea since 2005. Instrument Systems is a wholly owned subsidiary of Konica Minolta Inc., Japan (Konica Minolta). The company today announced that it has expanded its engagement in the Korean market by acquiring Kimsoptec, a technical…
-
Instrument Systems verstärkt seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik
Instrument Systems GmbH (Instrument Systems), ein Münchner Hersteller von hochpräzisen Spektralradiometern, Kameras und komplexen Display- und Lichtmesssystemen, übernimmt koreanischen Hersteller von Displaymesssystemen, um seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik zu stärken. Der Kaufvertrag über den Erwerb von 100 % der Anteile an Kimsoptec Co., Ltd. (Kimsoptec), seit 2005 exklusiver Distributor des Instrument Systems Produktportfolios in Korea und Hersteller von Displaymessgeräten, wurde unterzeichnet. Instrument Systems ist eine 100%ige Tochter von Konica Minolta Inc., Japan (Konica Minolta). Das Unternehmen gab heute bekannt, dass es sein Engagement auf dem koreanischen Markt durch die Übernahme von Kimsoptec verstärkt, einem technischen Beratungsunternehmen und Hersteller von optischen Messgeräten, der bereits seit 2005 exklusiv die Lösungen…
-
New CIE report on spectroradiometry
Under the scientific direction of Instrument Systems, the Technical Committee TC2-80 of the CIE has prepared a new technical report on the spectroradiometric measurement of optical radiation sources. The document, published as CIE 250:2022, supersedes the almost 40-year-old report CIE 063-1984. Practically oriented, it explains the basic measurement principles and provides practical instructions for the measurement of irradiance, radiation density, radiation intensity and radiant flux, including instrument calibration. In addition, the report describes in detail the physical effects relevant to spectroradiometric measurements, and in particular the estimation of measurement uncertainties. The measurement uncertainties occurring in every measurement quantitatively determine the accuracy of the calibration chain for traceable measured values. At…
-
Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie
Unter wissenschaftlicher Leitung von Instrument Systems hat das Technical Committee TC2-80 der CIE einen neuen Technischen Report zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen erstellt. Das jetzt als CIE 250:2022 veröffentlichte Dokument löst den fast 40 Jahre alten Bericht CIE 063-1984 ab. Praxisorientiert erklärt er die grundlegenden Messprinzipien und gibt praktische Hinweise für die Messung von Bestrahlungsstärke, Strahlungsdichte, Strahlungsintensität und Strahlungsfluss sowie die Instrumenten-Kalibrierung. Darüber hinaus beschreibt der Bericht detailliert die physikalischen Effekte, die für spektralradiometrische Messungen und insbesondere die Abschätzung von Messunsicherheiten relevant sind. Die bei jeder Messung auftretenden Messunsicherheiten bestimmen für rückführbare Messwerte quantitativ die Genauigkeit der Kalibrierkette. Auf der Light+Building in Frankfurt erfahren die Besucher am Stand von…
